センターが管理する主要な分析関連設備と機器をここに示します。
低温室設備
国立極地研究所低温室のホームページをご覧ください。極域環境相当での低温下での研究および物資貯蔵の目的でこれを設置しています。
超低温フリーザー設備
～-153℃の温度範囲での実験研究のためにこれを設置しています。
設備･機器名 | 仕様･機種 | 使用目的 | 共同利用研究者の利用可否 |
超低温フリーザー | サンヨー製 MDF-1155AT、温度調節範囲 -100℃～-153℃、内寸（幅 x 奥行き x 高さ）： 500x450x572 mm、有効内容積： 128L | -100℃～-153℃の温度範囲での実験研究 | 可 |
超低温フリーザー | サンヨー製 MDF392、温度調節範囲 -20℃～-85℃、内寸（幅 x 奥行き x 高さ）： 1120x520x532 mm、有効内容積： 309 L | -85℃までの温度範囲での実験研究 | 可 |
超低温フリーザー | サンヨー製 MDF293、温度調節範囲 -20℃～-85℃内寸（幅 x 奥行き x 高さ）： 760x420x565 mm、有効内容積： 180 L | -85℃までの温度範囲での実験研究 | 可 |
資試料の切断および研削のための機器
センターの低温室で利用可能なバンドソーとミクロトームの一覧です。
設備･機器名 | 仕様･機種 | 使用目的 | 共同利用研究者の利用可否 |
バンドソー2台 | リョーワ製 モデルBSW-200 | 雪氷試料のバンドソー切断 | 可 |
バンドソー1台 | リョーワ製 モデルBSW-200 | 雪氷試料のバンドソー切断 | 可 |
自動制御水平バンドソー | リョーワ製 特注 | 雪氷コア試料の60cm長までのバンドソー自動切断 | 可 |
大型ミクロトーム | 大和光機社製特注、アイスコア60cmストローク用 | 大ストロークの雪氷試料のミクロトーム研削や精密板状試料の整形 | 可 |
ミクロトーム | ライカModel SM 2400 | 雪氷試料のミクロトーム研削 | 可 |
ミクロトーム | ライツ製 1975年 （Model 2400の旧式モデル） | 雪氷試料のミクロトーム研削 | 可 |
物理系の諸解析のための機器
センターの低温室で利用可能である、物理系の諸解析のための機器の一覧です。
設備･機器名 | 仕様･機種 | 使用目的 | 共同利用研究者の利用可否 |
直流固体表面電気伝導度計(ECM) | ECM計測装置 | アイスコア表面の直流電気伝導度計測 | 可 |
交流固体表面電気伝導度計(ACECM) | ACECM計測装置 | アイスコア表面の交流電気伝導度計測 | 可 |
アイスコア誘電率プロファイル計測(DEP) | DEP計測装置 | アイスコアの複素誘電率計測 | 可 |
ミリ波誘電率テンソル計測装置1 | 26.5-40GHz対応 | アイスコアおよびフィルンの誘電率テンソル計測。ビーム径22mm | 可 |
ミリ波誘電率テンソル計測装置2 | 75-110GHz対応 | アイスコアおよびフィルンの誘電率テンソル計測、ビーム径11mm | 可 |
ミリ波誘電率テンソル計測装置3 | 40-60GHz対応 | アイスコアおよびフィルンの誘電率テンソル計測、ビーム径17mm | 準備中 |
白色光透過散乱式ラインスキャナー | 長岡技術科学大学高田守昌氏デザインによる南極観測用タイプ | アイスコアの光学層位観測 | 可 |
近赤外光透過散乱式ラインスキャナー | 同上の波長を930nmで計測するタイプ | アイスコアとフィルンの光学層位観測。特に、気泡と氷の界面の比表面積推定。 | 準備中 |
近赤外光反射式ラインスキャナー | 波長を930nmとした反射式ラインスキャナー | アイスコアとフィルンの光学層位観測。特に、気泡と氷の界面の比表面積推定。 | 可 |
結晶主軸方位分布自動計測装置 | 準備中。準備が整ったら掲載します。 | 氷のC軸方位分布を大量自動計測 | 準備中 |
結晶主軸方位分布手動計測装置Ｘ２ | リグスビーステージ | 氷のC軸方位分布を手動計測 | 可 |
ガンマ線透過式アイスコア密度計測装置 | ナノグレイ社製γ線透過式密度計 | アイスコアの密度計測 | 可 |
空気吸引式通気度連続計測装置 | 自作アセンブリ | フィルンの通気度計測 | 可 |
雪氷断面用マクロスキャナー | ドイツSchaefter+Kirchhoff GmbH製マクロスキャナー | アイスコアおよびフィルンのミクロトーム研削断面の気泡、結晶、結晶粒界の画像撮影 | 可 |
複素誘電率計測装置 | ヒューレットパッカード社製プレシジョンLCRメータおよび汎用電極 | 100Hz-5MHzまでの固体の複素誘電率計測 | 可 |
雪氷中の微粒子や雪氷構造体の微細構造解析のための機器
走査型電子顕微鏡は常温の実験室で、３次元μＣＴは、低温室内での運用です。設備･機器名 | 仕様･機種 | 使用目的 | 共同利用研究者の利用可否 |
走査型電子顕微鏡 SEM | 環境SEM（FEI Quanta450FEG） | 雪氷中の微粒子観察･氷の結晶構造観察 | 準備中 |
3次元マイクロCT | ブルカ－社 SkyScan1174 | 雪氷試料の微細３次元構造の観察 | 準備中 |
